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產(chǎn)品詳細(xì)頁
Monarc 陰極熒光系統(tǒng)

Monarc 陰極熒光系統(tǒng)

  • 訪問量:1860
  • 更新日期:2023-03-20
  • 產(chǎn)品介紹:Monarc 陰極熒光系統(tǒng),通過突破性的光路設(shè)計(jì),Monarc 具有顯著增加的靈敏度和譜分辨率,由此帶來的*特色的波長(zhǎng)-角度分辨能力,使您能夠進(jìn)行更為完整的陰極熒光(CL)表征分析工作
  • 廠商性質(zhì):代理商

產(chǎn)品介紹

品牌其他品牌價(jià)格區(qū)間面議
產(chǎn)地類別進(jìn)口應(yīng)用領(lǐng)域醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保

Monarc 陰極熒光系統(tǒng)

品牌: GATAN

名稱型號(hào):MonoCL4新一代陰極發(fā)光系統(tǒng)

制造商: GATAN公司

經(jīng)銷商:歐波同(中國)有限公司

 

 型號(hào) 450

 Monarc™—重新定義了 SEM (掃描電子顯微鏡)上陰極熒光 (CL) 表征的能力。

通過突破性的光路設(shè)計(jì),Monarc 具有顯著增加的靈敏度和譜分辨率,由此帶來的*特色的波長(zhǎng)-角度分辨能力,使您能夠進(jìn)行更為完整的陰極熒光(CL)表征分析工作。作為新一代的CL探測(cè)器,Monarc 為高要求的納米光子學(xué)(nanophotonics)、光電子學(xué)(optoelectronics)以及地質(zhì)科學(xué)等應(yīng)用領(lǐng)域帶來了全新的見解

 

Monarc 陰極熒光系統(tǒng)性能優(yōu)點(diǎn)


快速獲取高質(zhì)量數(shù)據(jù)

• 以優(yōu)異的空間分辨率(<10 nm="" 1="" br="">(0.1 nm)采集 CL 數(shù)據(jù)

• 采集同時(shí)具有角度和波長(zhǎng)分辨能力的 CL 數(shù)據(jù)

• 相較前代技術(shù),以高達(dá)30倍的更快速度采集超光譜
(hyperspectral)數(shù)據(jù)


操作簡(jiǎn)便


• 通過全自動(dòng)的光路對(duì)準(zhǔn)和基于配方驅(qū)動(dòng)的操作,得到優(yōu)化的結(jié)果

• 恒常對(duì)準(zhǔn)的光路為短期與長(zhǎng)期工作帶來可重復(fù)的結(jié)果

• 大視野提高數(shù)據(jù)采集通量,并簡(jiǎn)化用戶的工作流程

 

與其它信號(hào)的精確關(guān)聯(lián)


• 同時(shí)偵測(cè)多種信號(hào),對(duì)物理性質(zhì)或成分信息與CL數(shù)據(jù)進(jìn)行關(guān)聯(lián)成像

• 不需折衷妥協(xié)——在進(jìn)行CL測(cè)量的同時(shí),充分利用 SEM 的 in-lens探頭

 

 

圖 1. 該幅偏振過濾的 CL 圖像證明了 Monarc 能夠提供空間分辨率優(yōu)于10 nm 的 CL 數(shù)據(jù)。圖像來自尺寸在 100 nm 左右的星狀金納米顆粒兩組正交線性偏振發(fā)光的顏色疊加。

 

特色功能


• 角度分辨(angle-resolved CL,ARCL):在遠(yuǎn)低于光學(xué)衍射極限的尺度上理解光與物質(zhì)的交互作用——相較前代技術(shù),400x 更大視野,且不產(chǎn)生實(shí)際分辨率損失

• 波長(zhǎng)-角度分辨(wavelength- and angle-resolved CL, WARCL):跨越多重觀察角度與波長(zhǎng),對(duì)光與物質(zhì)的交互作用進(jìn)行可視化——歸功于*的光路設(shè)計(jì),以前無法做到或非常難以實(shí)現(xiàn)的表征手段,在 Monarc 上成為常規(guī)工作

• 偏振過濾:獲知例如光波段擔(dān)任納米天線、光子晶體等深度次波長(zhǎng)結(jié)構(gòu)的發(fā)光偏振性能

 

應(yīng)用領(lǐng)域
• 光電材料研發(fā)

• LED 和激光失效分析

• 顯示與照明

• 光-物質(zhì)交互作用基礎(chǔ)研究

• 納米光子學(xué)

• 光子晶體

• 地質(zhì)科學(xué)-痕量元素分布

• 光伏材料表征

• 熒光技術(shù)

 

Monarc 配備兩種不同型號(hào),滿足不同應(yīng)用需求:


Monarc
適合于地質(zhì)科學(xué)與面分布成像應(yīng)用,Monarc 型號(hào)擁有不受譜分辨率影響的更大視野,并通過其新穎的波長(zhǎng)過濾譜成像能力,提供更高空間采樣的超光譜數(shù)據(jù)采集,性能大大超越基于前代技術(shù)的 SEM CL 探測(cè)器。


Monarc Pro
對(duì)于納米光子學(xué)與光電子材料應(yīng)用,Monarc Pro 更為適用,由于其提供了更高的靈敏度與譜分辨率;并具備*的波長(zhǎng)-角度分辨分析能力以及偏振過濾選項(xiàng)。

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